1.微量天平（Microbalance）

定義：

微量天平是一種超高精度的稱量儀器，能夠測量微克（μg）甚至納克（ng）級的微小質(zhì)量，適用于超微量樣品的精確稱量。

特點(diǎn)：

量程：通常0.1μg～5 g（部分超微量天平可達(dá)納克級）。

精度：0.1μg（百萬分之一克）或更高。

應(yīng)用：

納米材料、薄膜沉積

單細(xì)胞、蛋白質(zhì)、DNA稱量

藥物微量成分分析（如吸入式藥劑）

環(huán)境顆粒物（PM2.5）質(zhì)量測定

環(huán)境要求：

需恒溫、防震、無氣流干擾（通常配備防風(fēng)罩和主動隔震臺）。

對操作人員技術(shù)要求高，輕微振動或溫度波動都會影響結(jié)果。

2.分析天平（Analytical Balance）

定義：

分析天平是一種高精度稱量儀器，適用于實(shí)驗(yàn)室常規(guī)毫克（mg）至克（g）級的精確稱量，精度低于微量天平，但更穩(wěn)定、適用范圍廣。

特點(diǎn)：

量程：通常0.1 mg～200 g。

精度：0.1 mg（萬分之一克）。

應(yīng)用：

化學(xué)試劑配制

藥品劑量稱量

材料科學(xué)（如粉末冶金）

食品、環(huán)境樣品分析

環(huán)境要求：

需防震、防風(fēng)（一般配備防風(fēng)罩），但比微量天平更耐受環(huán)境波動。

適合普通實(shí)驗(yàn)室，操作相對簡單。

3.核心區(qū)別對比

參數(shù)：微量天平分析天平

最小讀數(shù)：0.1μg（甚至納克級）0.1 mg（萬分之一克）

量程：0.1μg～5 g，0.1 mg～200 g

適用樣品：超微量（如納米顆粒、DNA），常規(guī)樣品（如化學(xué)試劑）

環(huán)境要求：極高（恒溫、嚴(yán)格防震），較高（需防風(fēng)、防震）

價(jià)格昂貴：（數(shù)萬～數(shù)十萬元），較低（數(shù)千～數(shù)萬元）

4.微量天平可以摔壞嗎？

微量天平的結(jié)構(gòu)脆弱性分析

易損部件

微量天平因超高精度需求，其核心部件極其精密，主要包括：

電磁力傳感器：通過電流平衡樣品重力，輕微碰撞可導(dǎo)致線圈偏移或損壞。

懸掛系統(tǒng)：采用柔性材料（如石英纖維）支撐稱盤，機(jī)械沖擊易使其斷裂。

防風(fēng)罩：玻璃或亞克力材質(zhì)，跌落時(shí)易碎裂。

摔落后的典型故障

傳感器失準(zhǔn)：

輕微摔落可能導(dǎo)致內(nèi)部電磁力補(bǔ)償系統(tǒng)偏移，表現(xiàn)為零點(diǎn)漂移或線性誤差。

需專業(yè)技術(shù)人員用標(biāo)準(zhǔn)砝碼重新校準(zhǔn)（如1μg級砝碼）。

機(jī)械結(jié)構(gòu)損傷：

懸掛臂變形或斷裂，導(dǎo)致稱盤無法自由擺動。

修復(fù)成本高，通常需返廠更換核心部件。

電子系統(tǒng)故障：

電路板焊點(diǎn)松動或芯片受損，引發(fā)顯示異常或無法開機(jī)。

5.微量天平的抗摔防護(hù)建議

使用規(guī)范

禁止移動開機(jī)狀態(tài)的天平：電磁傳感器在通電時(shí)更易受振動影響。

稱量后立即關(guān)閉防風(fēng)罩：減少氣流擾動和意外碰撞風(fēng)險(xiǎn)。

放置于抗震臺：使用主動或被動隔震臺（如氣墊隔震臺）。

應(yīng)急處理

若微量天平不慎摔落：

立即斷電，防止傳感器持續(xù)輸出錯誤信號。

檢查外觀：確認(rèn)稱盤、防風(fēng)罩是否變形或破裂。

初步測試：

空載時(shí)觀察零點(diǎn)是否穩(wěn)定。

用標(biāo)準(zhǔn)砝碼（如1 mg）驗(yàn)證重復(fù)性誤差。

聯(lián)系廠商：微量天平通常需返廠校準(zhǔn)，不可自行拆解。

總結(jié)

分析天平適用于常規(guī)精密稱量，而微量天平用于超微量測量，后者對環(huán)境穩(wěn)定性和操作規(guī)范要求極高。

微量天平極易因摔落損壞，維修成本可能超過原價(jià)的50%。建議實(shí)驗(yàn)室制定嚴(yán)格的操作規(guī)程并配備防震設(shè)施。

若發(fā)生摔落事故，需立即停機(jī)并聯(lián)系專業(yè)維護(hù)，避免二次損傷。

提示：部分高端微量天平具備沖擊檢測功能，可自動鎖定傳感器，但仍需謹(jǐn)慎操作！